前言：国产芯片替代测试,替代测试主要内容,高速连接器,RJ45器件
国产芯片替代测试 替代测试主要内容 高速连接器 RJ45器件
产品特点国产芯片替代测试 替代测试主要内容 高速连接器 RJ45器件
在传统数字系统设计中，高速互联现象常常可以忽略不计，因为它们对系统的性能影响很微弱。然而，随着计算机技术的不断发展，在众多决定系统性能的因素里，高速互联现象正起着主导作用，常常导致一些不可预见问题的出现，极大的增加了系统设计的复杂性。
在高速信号链路中，如果信号沿互联传播时受到的瞬时阻抗发生变化，则一部分信号将被反射，另一部分发生失真并继续传播下去，这是很多SI问题产生的主要原因。影响阻抗的因素很多，包括走线周围介质的介电常数、介质厚度、线宽、以及参考平面的连续性，尤其高速连接器处过孔，容性较大，阻抗较低，常常出现阻抗不连续问题。
针对高速连接器处过孔不连续，通常大家使用高密压接连接器，这种连接器避免焊锡，同时在连接高速线过孔处进行挖洞处理，降低过孔处容性，提高阻抗，保证其阻抗连续性。虽然过孔挖洞会优化阻抗连续性，但是忽略了板厚，同样的挖洞大小放在不同板厚的板子上，带来的阻抗优化效果并不相同。
工作条件：国产芯片替代测试 替代测试主要内容 高速连接器 RJ45器件
