前言:控制信号过冲测试,控制信号高低电平测试,EMMC 复位测试,国产芯片替代测试
控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试 EMMC 器件测试
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1.简化手机存储器的设计。eMMC是当前最红的移动设备本地存储解决方案,目的在于简化手机存储器的设计,由于NAND Flash芯片的不同厂牌,所以都需要根据每家公司的产品和技术特性来重新设计,而过去并没有技术能够通用所有厂牌的NAND Flash芯片。
2.更新速度快。每次NAND Flash制程技术改朝换代,包括70纳米演进至50纳米,再演进至40纳米或30纳米制程技术,手机客户也都要重新设计,但半导体产品每1年制程技术都会推陈出新,存储器问题也拖累手机新机种推出的速度,因此像eMMC这种把所有存储器和管理NAND Flash的控制芯片都包在1颗MCP上的概念,随着不断地发展逐渐流行在市场中。
3.加速产品研发速度。eMMC的设计概念,就是为了简化手机内存储器的使用,将NAND Flash芯片和控制芯片设计成1颗MCP芯片,手机客户只需要采购eMMC芯片,放进新手机中,不需处理其它繁复的NAND Flash兼容性和管理问题,最大优点是缩短新产品的上市周期和研发成本,加速产品的推陈出新速度。
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