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DDR测试 \硬件测试服务\Interposer 测试\ 电子元器件替代测试

发布时间:2023-12-13        浏览次数:13        返回列表
前言:DDR DQRD数据读\ DQWR数据写\ DDR2 DDR3 DRD数据读\ DQWR数据写测试
DDR测试 \硬件测试服务\Interposer 测试\ 电子元器件替代测试

 DDRA不是种独立式工具,可直接与泰克强大的抖动、眼图和定时分析工具DPOJE连接,完成更多测量项目:

  1.周期/频率、占空比、幅度、上升/下降时间测量;

对于DDR的数字调试和验证,泰克的TLA7000系列逻辑分析仪+Nexus分析软件和NEXVu插卡式DIMM夹具提供了世界的DDR2/3存储器数据采集、分析和协议检验及调试解决方案。

配件
测试夹具:




为了保证所保存的数据不丢失,DRAMASR必须定时进行刷新。为了的节省电力,DDR3采用了一种新型的自动自刷新设计(ASR,Automatic Self-Refresh)。当开始ASR之后,将通过一个内置于DRAM芯片的温度传感器来控制刷新的频率,因为刷新频率高的话,消电就大,温度也随之升高。而温度传感器则在保证数据不丢失的情况下,尽量减少刷新频率,降低工作温度。不过DDR3的ASR是可选设计,并不见得市场上的DDR3内存都支持这一功能,因此还有一个附加的功能就是自刷新温度范围(SRT,Self-Refresh Temperature)。通过模式寄存器,可以选择两个温度范围,一个是普通的的温度范围(例如0℃至85℃),另一个是扩展温度范围,比如到95℃。对于DRAM内部设定的这两种温度范围,DRAM将以恒定的频率和电流进行刷新操作。



支持如下硬件测试项目:

以太网一致性测试、USB2.0测试、USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、眼图测试

抖动测试、纹波测试、时序测试、DDR测试、CAN/LAN测试、I2C测试和SPI测试

安规测试、噪声测试、S参数测试、WIFI测试、阻抗测试、静电放电测试


仪器仪表租售服务

主要仪器:示波器、信号发生器、逻辑分析仪、网络分析仪、频谱分析仪、功率计、DC程控电源、ESD测试仪、风速测试仪、安规测试仪、负载测试仪、近场测试仪、温度测试仪等等。

 

主要品牌:惠普 HP/ 安捷伦 Agilent/ 是德 Keysight、安立 Anritsu、爱德万 Advantest、罗德史瓦兹 Rohde&Schwarz、泰克 Tektronix、 IFR/Marconi、吉时力 Keithley、Hitachi、Panasonic、Fluke、Iwatsu、Lecroy 、NI(National Instruments)、Fluke(福禄克) 等品牌仪器仪表。


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