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eMMC信号质量测试 信号完整性测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试

发布时间:2023-12-13        浏览次数:4        返回列表
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eMMC信号质量测试,信号完整性

EMMC测试座,采用进口双头探针结构,使用寿命是10万次,通过更换限位框可实现各种品牌各种尺寸的EMMC芯片(内嵌式存储记忆芯片)支持在线烧录和烧录器烧录,此款EMMC芯片使用于平板电脑,手机,SSD,U盘等产品上。有客户会把这款EMMC芯片称之为MOVI NAND和INAND。
          A、可直接插SD卡读卡器连接电脑,支持
热拔插;
  B、同时兼容:东芝(TOSHIBA)、三星(SAMSUNG)、海力士(Hynix)、
英特尔(Intel)、Sandisk等所有同样封装的moviNAND或iNAND等闪存记体;
  C、兼容芯片型号有:THGBM1G6D4EBA14、KLM2G1DEDD-A101、SDIN4C2-4G等;并兼容不同容量1G/2G/4G/8G......
  D、导电体采用进口POGO PIN,性能稳定、测试座测试寿命可达10 万次以上,是YAMAICHI 和OKINS 同类的弹片座子的寿命的5倍以上;并探针可更换,维修方便,成本低;
  E、采用翻盖式结构,操作方便,效率高;不同大小IC只要换限位框即可实现不同大小IC的兼容(16x18x0.95、16x18x0.85、16x12x0.85);
  F、功能一:对FLASH进行测试,判断IC的好坏,达到筛选IC的目的;
  G、功能二:可通过专用量产工具对FLASH进行低级格式化,是SD卡、U盘、SSD、PDA、手机、平板电脑等移动终端产品厂商的好帮手;
  H、如果MMC controller损坏,而IC内部的Flash部分未损坏,可用“基于U盘FLASH夹具”(KZT的另一款产品)测试FLASH的好坏,实现变废为宝,既环保又降低了成本;

检测项目:控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试 EMMC 器件测试
高速电路测试服务项目有:① SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试,主要内容是电源的电压值(精度)、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试,主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。

工作条件:控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试 EMMC 器件测试

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