JTAG接口信号
标准的JTAG接口定义了以下一些信号管脚：
TMS：测试模式选择信号，输入，IEEE 1149.1标准强制要求。
TCK：测试时钟信号，输入，IEEE 1149.1标准强制要求。
TDI：测试数据输入信号，输入，IEEE 1149.1标准强制要求。
TDO：测试数据输出信号，输出，IEEE 1149.1标准强制要求。
TRST：内部TAP控制器复位信号，输入，IEEE 1149.1标准不强制要求，因为通过TMS也可以对TAP Controller进行复位。
STCK：时钟返回信号，IEEE 1149.1标准不强制要求。
DBGRQ：目标板上工作状态的控制信号，IEEE 1149.1标准不强制要求
10.1.3 TAP控制器的状态机
TAP控制器有16个同步状态，控制器的下一个状态TMS信号决定，TMS信号在TCK的上升沿被采样生效。
图10-1列出了TAP控制器的16个同步状态转换机制。
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Test-Logic-Reset测试逻辑复位状态
处于这种状态下，测试逻辑被禁止以允许芯片正常操作，读IDCODE寄存器将禁止测试逻辑。
无论TAP控制器处于何种状态，只要将TMS信号在5个连续的TCK信号的上升沿保持高电平，TAP就将进入Test-Logic-Reset状 态，如果TMS信号一直为高电平，那么TAP将保持在Test-Logic-Reset状态，另外TRST信号也可以强迫TAP进入Test- Logic-Reset状态。
处于Test-Logic-Reset状态的TAP，如果下一个TCK的上升沿时TMS信号处于低电平，那么TAP将被切换到Run-Test-Idle状态。
Run-Test-Idle运行测试空闲状态
Run-Test-Idle是TAP控制器扫描操作空闲状态，如果TMS信号一直处于低电平，那么TAP将保持在TRun-Test-Idle状态。当TMS信号在TCK上升沿处于高电平，TAP控制器将进入Select-DR-Scan状态。
