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LVDS信号完整性测试,数据质量测试

发布时间:2023-12-19        浏览次数:7        返回列表
前言:LVDS信号完整性测试,数据质量测试
LVDS信号完整性测试,数据质量测试

LVDS信号完整性测试,数据质量测试

LVDS发送芯片将以并行方式输入的TTL电平RGB数据信号转换成串行的LVDS信号后,直接送到液晶面板的LVDS接收芯片。LVDS发送芯片的输出是低摆浮差分对信号,一般包含一个通道的时钟信号和几个通道的串行数据信号。由于LVDS发送芯片是以差分信号的形式进行输出,因此,输出信号为两条线,一条线输出正信号,另一条线输出负信号。

2.1 时钟信号的输出:LVDS发送芯片输出的时钟信号频率与输入时钟信号(像素时钟信号)频率相同。时钟信号的输出通常表示为:TXCLK+ 和 TXCLK-,时钟信号占用LVDS发送芯片的一个通道。

2.2 LVDS串行数据信号输出:
对于四通道LVDS发送芯片,串行数据占用三个通道,其数据输出信号常表示为:XOUT0+、XOUT0-、XOUT1+、XOUT1-、XOUT2+、XOUT2-。

对于五通道LVDS发送芯片,串行数据占用四个通道,其数据输出信号常表示
为:XOUT0+,XOUT0-,XOUT1+,XOUT1-,XOUT2+,XOUT2-,XOUT3+,XOUT3-D0BB1430-7FF6-49FA-B873-29F085FC493D.pngE047D8E8-197E-458A-92A4-D896607BE9F1.png


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