CLOCK 负脉冲宽度测试介绍 DDR3信号完整性测试 PCIE接口测试

CLOCK 负脉冲宽度测试介绍  DDR3信号完整性测试  PCIE接口测试

CLOCK 负脉冲宽度测试

      在示波器触发菜单选中触发模式为上升沿触发，在AUTO 狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single操作。预先按下single按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚测试，量测结果如下图所示， 通过在Measure菜单选择负脉冲宽度测量项对波形进行测量。也可用水平光标测量负脉冲宽度。分析波形，负脉冲宽度应在芯片规格范围。

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高速电路测试服务项目有：

① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。

② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。

③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。